Анализатор серии Z-300 LIBS
Любой элемент Периодической таблицы за секунду в ваших руках.
Лазерный Z-300 делает то, что всегда было невозможно для портативных анализаторов. Наш лазерный “пистолет” измеряет каждый элемент периодической таблицы от Н до U. Z-300 использует тот же лазер, что и Z-200, но с расширенным спектральным диапазоном от 190 нм до 950 нм. Данный диапазон позволяет измерять эмиссионные линии элементов H, F, N, O, Br, Cl, Rb, Cs и S. Эти линии не может измерить Z-200. Z-300 также измеряет более чувствительную линию для Лития (Li) для достижения пределов обнаружения в диапазоне 2-5 ppm. Z-300 также измеряет более чувствительную и чистую от помех линию для Калия (K). Более традиционные линии калия имеют значительные помехи от железа, тогда как линия, используемая Z-300, не имеет таких помех.
Z-300 находит большой спектр применений для разведки полезных ископаемых, включая литий как в твердой породе, так и в соляных растворах. Он также используется в области научных исследований, судебной экспертизы, криминалистики, аутентификации, археологии, разведки нефти и газа, поиска золота и полиметаллов благодаря широкому диапазону измеряемых элементов.
Как и в Z-200, лазерный импульс, подготовка поверхности, настройки спектрометра контролируются Пользователем. Анализатор имеет полноценное программное обеспечение для изменения всех настроек, сравнения спектральных данных и формирования калибровочных кривых. Z-300 имеет ту же ОС Android и интуитивно понятный пользовательский интерфейс, что и все другие модели анализаторов SciAps.
Объемные пробы и микроанализ
Z – единственный в мире портативный анализатор, предлагающий элементный микроанализ материалов. Пользователи могут настроить сетку растра, используя точечный размер пятна размером 100 мкм для элементного отображения по точкам. Для массивных образцов программой Z может быть задан средний результат для каждой точки растра для получения результата объемной выборки. Такая функция работает и на наших портативных рентгено-флуоресцентных XRF анализаторах серии X.
* Данные рентгеновского флуоресцентного микрозонда (XFM) австралийского синхротрона любезно предоставлены Шоном Баркером (Университет Вайкато) и Джереми Воганом (Баррик).
Картина рентгеновской флуоресценции (XFM) для Fe. Портативный LIBS анализатор SciAps теперь позволяет проводить целенаправленный микроанализ геологических образцов в полевых условиях.
Соответствующая карта распределения элементов LIBS анализатора для Fe показывает отличную корреляцию с картой XFM.
The 3 “Must Have’s” for Handheld LIBS
1
Обдув аргоном
Z – это портативный ЛИЭС со встроенной системой продувки. Пользователь может менять мини баллончики самостоятельно. Работа в аргоновой среде увеличивает интенсивность импульсов в 10x или более раз, что особенно важно для замеров в глубоком УФ (190 нм – 300 нм), где измеряется большинство элементов. На рисунке показаны два спектра, полученные на образцах нержавеющей стали, с аргоном и без него, демонстрирующие большое отличие интенсивности сигналов. Также доступны большие баллоны на пояс (в 4 раза больше стандартного минибаллончика). Пользователи также могут подключать Z к промышленным стандартным стационарным аргоновым резервуарам с нашим дополнительным пакетом, состоящим из адаптера, регулятора и шланга.
Могу ли я использовать Z-300 без аргона? Да. Все наши анализаторы LIBS могут работать с аргоном или без него или с функцией стробирования спектрометра или без нее.
Однако, вам необходимо использовать наше программное приложение ProfileBuilder для построения калибровочных кривых в режиме воздух.
2
Лазерная технология очистки поверхности – Автоматизирует подготовку образцов, предлагает профилирование по глубине
Z отличает новейший режим очистки поверхности, автоматический или настраиваемый Пользователем в зависимости от применения. В режиме зачистки лазер стреляет мощными импульсами 5-6 мДж/имп. с частотой 50 Гц (50 обжигов/сек), то есть 5 очищающих обжигов каждые 0.1 сек. Пользователь может настроить количество очищающих импульсов. После очищающих импульсов Z стреляет лазером в те же самые точки и уже получает спектральные данные для анализа. Для металлических образцов, которые могут иметь окалину или поверхностные загрязнения, по умолчанию предустановлено 10 очищающих выстрелов. Для почв и минералов обычно необходимо меньше. Очищающие выстрелы могут использоваться и для глубокого профилирования, к примеру, если нужно проанализировать более глубокие слои образца или пройти сквозь покрытие. Фокусировка лазера контролируется программой, таким образом, тестирование продолжается и “на глубине” материала.
Пример зачистки поверхности лазером Z.
Дополнительные выстрелы, сделанные с частотой 50 Гц, выжигают поверхностный слой, позволяя анализировать лежащий под ним объемный материал.
3
Растрируемый лазер 2D + регулировка Фокуса
Большинство научных публикаций подтверждает, что наилучшая воспроизводимость ЛИЭС анализатора достигается с помощью растрирования лазера, когда результаты множества точек усредняются. Z со своей портативной технологией шагнул еще дальше в этом направлении. Он имеет встроенную платформу, передвигающую лазер в двух XY направлениях, плюс регулировка фокуса – в третьем Z-направлении. В дополнение к заводским установкам сетки растра для специфических приложений (сплавы, геохимия и т.д.) Пользователь может задать свой собственный шаблон растра. Можно проводить линейное сканирование или анализ одной определенной точки, например, при исследовании минеральных жил и включений. Диаметр луча лазера примерно 50 микрон. Z включает в себя осветительное волокно, которое при выравнивании с растровым рисунком освещает место, где будет создаваться плазма. Благодаря программно-управляемому изменяемому фокусу пользователь может получать аналитические результаты в зависимости от толщины образца.
Характеристики
Вес
1,9 кг с батареей
Габариты
8.25″ x 11.5″ x 4.5″
Сохранение данных
Результаты хранятся на внутренней памяти SD карты 16 GB
Получение спектральных данных
Спектральные данные собираются в режиме открытого или закрытого строба. Стробирование может настраиваться Пользователем.
Передача данных
Wifi, Bluetooth, USB. Возможность подключения к любым электронным устройствам, включая программное обеспечение SciAps ProfileBuilder для ПК, MAC.
Питание
Анализатор поставляется с перезаряжаемыми литий-ионными батареями, зарядным устройством и адаптером для питания и зарядки батареи от сети.
Источник возбуждения
5-6 Мдж/импульс, 50 Hz частота повторения, 1064 нм лазерный источник
Эксплуатация/Продувка аргоном
Заменяемые встроенные баллоны с аргоном для точного анализа 1 баллона хватает на 100 тестов измерения углерода и 600 тестов для обычных замеров
Безопасность
Защита доступа паролем и внутренняя защита паролем для администрирования.
Лазерное растрирование
XY платформа передвигает лазер в 2 направлениях. Растрирование лазера обеспечит усреднение результатов множества точек. Область растрирования 16 x 16 точек, 256 местоположений.
Управляющая электроника
Процессор: ARM Cortex -A9 dual-core / 1.2 GHz Память: 1 GB DDR2 RAM, 1 GB NAND
Нормативы и сертификаты
CE, RoHS, USFDA регистр. Класс безопасности лазера 3b. Сенсор наличия образца позволяет приравнивать работу по классу безопасности Class 1, требования по безопасности зависят от страны использования. Внесен в Реестр Средств Измерений РФ, ТР ТС, Гост-Р.
Проверка калибровки
Встроенный в анализатор контрольный образец сделан из 316 нержавеющей стали для полностью автоматической рекалибровки по длине волны.
Коррекция дрейфа
Требуется только для анализа углерода в стали с высокой точностью (с продувкой аргоном). Автоматическая коррекция дрейфа проводится с помощью заводских или пользовательских контрольных образцов.
Доступные приложения
Сплавы, Геохимия (горное дело), Железные руды, Эмпирические, Экологические приложения. Новые приложения регулярно добавляются и обновляются, пожалуйста, свяжитесь с поставщиком для получения информации.
Видео/фото документирование
Встроенная фото и видео камера для просмотра образца до, во время анализа для уточнения места анализа.
Авто-фокус
Z-направляющая платформа контролируется вручную или автоматически, подстраивая фокусировку лазера в определенной точке анализируемого образца. Необходимо для анализа жидкостей.
Дисплей
5 дюймовый цветной тачскрин дисплей c поддержкой PowerVR SGX540 3D graphic