Самара
Ваш город
Самара?

Выберите город

По данному запросу ни одного города не найдено!
КАТАЛОГ ОБОРУДОВАНИЯ
  • Ультразвуковой контроль
  • Рентгеновский контроль
  • Магнитопорошковый контроль
  • Анализаторы химического состава
  • Контроль среды
  • Контроль бетона
  • Визуально-измерительный контроль
  • Капиллярный контроль
  • Контроль изоляции
  • Тепловизионный контроль
  • Вихретоковый контроль
  • Оборудование для подготовки образцов
  • Контроль твердости
  • Контроль герметичности
  • Маятниковые копры
  • Испытательные машины
  • Трассопоиск
  • Акустическая эмиссия
  • Течеискатели
  • Вибродиагностика
  • Системы НК

Конфокальный микроскоп LEXT OLS 5100

Конфокальный микроскоп LEXT OLS 5100 превью 1
Бесплатная презентация на объекте клиента
Официальная гарантия
Осуществляем быструю доставку
Скидки постоянным клиентам

Конфокальный микроскоп Olympus LEXT OLS5100 предназначен для изучения структуры и топографии поверхности образцов любых типов. Благодаря точности измерения микроскоп подходит как для исследования материалографических образцов, так и для контроля качества измерительных, металлообрабатывающих и медицинских инструментов, микроэлектронных компонентов и иных деталей. Отличается удобством, простотой и высокой скоростью работы. Объединяет в себе исследовательский оптический моторизованный микроскоп, лазерный конфокальный измерительный микроскоп, а также лазерный профилометр-профилограф.
Микроскоп внесен в Государственный реестр средств измерений.

Основные преимущества:

  • двухканальная система лазерного сканирования;
  • измеряемая высота по оси Z – от 6 нм;
  • латеральное разрешение изображения в лазерном режиме – 120 нм;
  • возможность проведения измерений на панорамных 2D- и 3D-изображениях;
  • разрешение одного кадра в режиме лазерного сканирования – 4096 × 4096 точек;
  • возможность измерения толщин полупрозрачных покрытий.
Область применения Материаловедение, Приборостроение и микроэлектроника, Геометрические измерения, Измерение шероховатостей и отклонения формы, Криминалистика
Тип микроскопа Измерительный
Методы контрастирования Светлое поле (BF), Дифференциально-интерференционный контраст (DIC), Простая поляризация (PO), Лазерный режим
Возможность моторизации Да
Увеличение от 54
Увеличение до 17280
Оптическая система UIS2 (скорректированная на бесконечность); Лазерная конфокальная
Оптический зум
Измерения на плоскости XY Точность: ±1,5 % от измеренного значения; Воспроизводимость, мкм: 0,02
Измерения по оси Z Точность: ±0,15 + L/100 мкм, где L – измеряемая длина в мм; Воспроизводимость, мкм: 0,012
Тип штатива Отраженного света
Тип осветителя Полупроводниковый лазер 405 нм
Автофокус Да
Стол
Ручной, мм 100 × 100
Моторизованный, мм 100 × 100, 300 × 300
Максимальная высота образца, мм 210
Вес, кг 50
    Написать сообщение
    Оцените от 1 до 5
    У вас есть вопросы? С радостью ответим на них!