Конфокальный микроскоп Olympus LEXT OLS5100 предназначен для изучения структуры и топографии поверхности образцов любых типов. Благодаря точности измерения микроскоп подходит как для исследования материалографических образцов, так и для контроля качества измерительных, металлообрабатывающих и медицинских инструментов, микроэлектронных компонентов и иных деталей. Отличается удобством, простотой и высокой скоростью работы. Объединяет в себе исследовательский оптический моторизованный микроскоп, лазерный конфокальный измерительный микроскоп, а также лазерный профилометр-профилограф.
Микроскоп внесен в Государственный реестр средств измерений.
Основные преимущества:
- двухканальная система лазерного сканирования;
- измеряемая высота по оси Z – от 6 нм;
- латеральное разрешение изображения в лазерном режиме – 120 нм;
- возможность проведения измерений на панорамных 2D- и 3D-изображениях;
- разрешение одного кадра в режиме лазерного сканирования – 4096 × 4096 точек;
- возможность измерения толщин полупрозрачных покрытий.
| Область применения | Материаловедение, Приборостроение и микроэлектроника, Геометрические измерения, Измерение шероховатостей и отклонения формы, Криминалистика |
| Тип микроскопа | Измерительный |
| Методы контрастирования | Светлое поле (BF), Дифференциально-интерференционный контраст (DIC), Простая поляризация (PO), Лазерный режим |
| Возможность моторизации | Да |
| Увеличение от | 54 |
| Увеличение до | 17280 |
| Оптическая система | UIS2 (скорректированная на бесконечность); Лазерная конфокальная |
| Оптический зум | |
| Измерения на плоскости XY | Точность: ±1,5 % от измеренного значения; Воспроизводимость, мкм: 0,02 |
| Измерения по оси Z | Точность: ±0,15 + L/100 мкм, где L – измеряемая длина в мм; Воспроизводимость, мкм: 0,012 |
| Тип штатива | Отраженного света |
| Тип осветителя | Полупроводниковый лазер 405 нм |
| Автофокус | Да |
| Стол | |
| Ручной, мм | 100 × 100 |
| Моторизованный, мм | 100 × 100, 300 × 300 |
| Максимальная высота образца, мм | 210 |
| Вес, кг | 50 |